發布日期：2022-03-15 瀏覽：985 次
高壓介損試驗常規10kV試驗方法存在的問題
目前，在電氣試驗中主要都是通過10kV下的介損試驗測量(tanδ)的大小來發現設備的缺陷。可是，10kV的試驗電壓遠低于設備的運行電壓，不能真實反映設備運行時的狀況。良好的絕緣在允許的電壓范圍內，無論電壓上升或下降，其介損值均無明顯變化。但現場試驗數據顯示，不同絕緣介質設備的介質損耗(tanδ)值會隨著電壓的升高而變大或變小。所以在設備運行電壓下做介質損耗測試才能真實反映設備的絕緣情況。
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